サーモフィッシャーサイエンティフィック日本FEI株式会社によるセミナーを実施していただけることになりました。
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タイトル：クライオ電子顕微鏡・フォーカスイオンビーム(FIB)利用研究の最前線
ーイメージングによる構造解析の利点ー
要旨：
FIBは金属をはじめ細胞、生体組織等を迅速に加工可能なツールとしてマテリアルサイエンス、ライフサイエンス問わず使用されております。弊社のFIBは走査型電子顕微鏡および蛍光顕微鏡を付属しているため、加工から確認までオールインワンでシームレスに作業を行うことが可能です。本セミナーでは、弊社FIB-SEMを実例を踏まえてご紹介させて頂きます。
開催日時：
6月7日（水） 10:00‐11:10
事前申し込みの必要はありません。
※参加時は参加名を「所属・氏名」に変更してください。
※学生さんへの展開をよろしくお願いします。
※当日のアンケートへのご協力もよろしくお願いします。設備導入のための資料とさせていただきます。
