機器分析センタータイトル

走査型電子顕微鏡 + エネルギー分散型X線分析装置 (1F)
(SEM+EDX, SSX-550+SEDX-500)

 

走査型電子顕微鏡 + エネルギー分散型X線分光法 (1F) (SEM+EDX, SSX-550+SEDX-500)
活用事例
  • プリント基板、メッキ製品、セラミック等の表面形態観察
  • 異物の形状観察・組成分析
  • コーティング材に添加した化合物の元素分布状態
  • プラスチック包装材の表面形状観察
  • 粉末・微粒子の形態観察
  • 金属基板表面の元素の凝集状態の観察
  • 潤滑膜の半定量分析
メーカおよび型式

島津 SSX-550 + SEDX-500

仕様

[SEM] 倍率:x10~x300,000(65段), 分解能:二次電子像3.0nm, 反射電子像4.5nm, 加速電圧:0.3~30KV,
[EDX] 検出元素:ホウ素(B, Z=5)~ウラン(U, Z=92), 分解能:138eV, 素子面積:10mm2

設置場所

総合研究棟1F (101)

担当者

技術部 坂本 広太(内1143)

注意事項
  • 初めて使用を希望する方はまず, 機器分析センターにご相談ください.
  • 使用許可がでたら, 本機の操作方法や注意点を, DVD (約3時間, 貸与可) で勉強することが必須です.
  • EDX測定には液体窒素が必要です. 各自で用意してください. デュワー瓶をお持ちでない方はセンターにご相談ください.
  • 予約可能期間は向こう1か月先までです.
  • フィラメントが切れたと思ったら,担当者までご連絡ください.