蛍光X線分析装置 (XRF, エレメントモニタ EA1200VX)
活用事例
- 鉄鋼・非鉄金属など部材の半定量分析
- 土壌中に含まれる元素の定性・半定量分析
- 電子・半導体部品に含まれる有害金属の定性・半定量分析
- プラスチック製包装材に含まれる有害金属の定性・半定量分析
- メッキなど表面層の異物分析・膜厚測定
- 潤滑油・水溶液に含まれる金属元素の同定
- ポリ塩化ビニルに含まれる塩素の分析
メーカおよび型式
（株）日立ハイテクサイエンス EA1200VX
仕様
Na~Uまで測定可能
液体窒素不要
1 mmφ X線ビームによる微小分析可能
注意事項
- 利用をご検討の方は、担当者にご連絡ください。
- X線源立ち上げ後は1時間待機して下さい。
- 測定終了後、X線源をOFFにしてから5分以上経過後に装置電源をOFFにしてください。
