X線光電子分光分析装置（XPS, AXIS-NOVA）
活用事例
- 包装材の表面特性
- ステンレス鋼表面や半導体材料の酸化状態
- シミや変色の分析
- 粉体や残留物の組成分析
- 潤滑剤の膜厚
- メッキなど表面処理後の状態
- 樹脂に添加した化合物分析
メーカおよび型式
（株）島津製作所 AXIS-NOVA
仕様
X線ターゲット: Al (hν＝1486.6 eV)
中和機構有
Arイオン銃,コロネン銃搭載
注意事項
- 超高真空装置です．慎重に取り扱ってください．
- XPSを1人での使用は大学院生・教職員に許可します．学部生は大学院生・教職員と一緒に操作してください.
- データの取り出しにはセキュリティー機能付きのUSBをご利用下さい.
- 予約可能期間は向こう1か月先までです．
- これまで測定経験がない試料を測定する場合，および特殊な方法で測定する場合は一度担当者を訪ねてください．
- 土日・祝日・長期休暇中に使用したい学生は必ず指導教員と相談の上，担当者までメールで連絡ください (CCに指導教員のメールアドレスをいれること)
