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走査型電子顕微鏡 + エネルギー分散型X線分析装置 (2F)
(SEM+EDX, S-3000N+EX-200K)

走査型電子顕微鏡 + エネルギー分散型X線分光法 (2F) (SEM+EDX, S-3000N+EX-200K)

活用事例

しばらくお待ちください。

メーカおよび型式

日立製作所(株)製 S-3000N ＋堀場製 EX-200K

仕様

高真空及び低真空モードによる表面観察と元素分析。無蒸着測定可能。

設置場所

総合研究棟2F (203)

担当者

機器分析センター　林　史夫（内1141）

注意事項

SEM, EDXとも不調です(現時点で修理の予定はありません).
SEM-EDX(島津, 総研棟1F 101室)の使用をお勧めします.

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